Комбинационное(рамановское) рассеяние света

Ранее (в разделе 2.1.2) уже был представлен спектр КРС для ОАМ (ри­сунке 2.8), где приведен его предварительный анализ. Опишем параметры ис­пользуемого нами в работе сканирующего зондового конфокального раманов­ского микроспектрометра OmegaScope AIST-NT (Россия).

объединены возможности сканирующей зондовой, оптической конфокальной и флуоресцентной микроскопии и рамановской микроспектроскопии. При этом достигается высокое спектральное (до 0.8 см^-1) разрешение, которое определяется применяемой дифракционной решёткой (1800 линий/мм). В ка­честве зондирующего лазерного излучения в комплексе используется 3 лазера с длинами волн и мощностями 473 и 25, 532 и 50, 785 нм и 80 мВт, соответ­ственно. Наилучшее пространственное разрешение (0.4 мкм) достигается при использовании лазерного излучения с наименьшей длиной волны - 473 нм. Для регистрации спектров КРС в комплексе используется охлаждаемая спек­троскопическая CCD камера Andor DV420A-BV (Ирландия), оснащенная мат­рицей 1024?256 пикселей (размер одного пикселя 26 мкм), что и обеспечивает регистрацию рассеянного излучения в диапазоне 200 - 1000 нм. В данной кон­фигурации фиксируется только антистоксова компонента рамановского спек­тра в диапазоне до более 10000 см^-1, что обеспечивается применением в опти­ческой системе спектрометра edge-фильтров (Semrock, США) для каждой длины волны возбуждающего излучения. Дифракционные решетки (150, 600 линий/мм), позволяли получать обзорные спектры.

Как уже отмечалось в разделе 1.6.1.1 в составе СК АБ широко использу­ются УА [104, 105], где изучено присутствие УНТ (вплоть до содержания 0.001, 0.005%) в ЭМ по возникновению линий Gи D.КРС в работе [115] в ОАМ с ОУНТ и МУНТ и графеном выявлены возбуждения характерных ли­ний D, G, 2D, установлен уровень дефектности по отношению интенсивностей Dи G, а также обнаружен дополнительный пик в области 978 см^-1. Он соответ­ствует симметричным растяжным колебаниям сульфатной группы PbSO₄и возникал только с ОУНТ и МУНТ. Тогда как при использовании в качестве УА в ОАМ графена он отсутствовал. В роли УА помимо традиционных соеди­нений предлагается использовать естественное природное соединение типа хитозан [194], из которого после термической обработки по данным КРС воз­никают УНТ.

Таким образом КРС выступает в качестве весьма информативного ме­тода исследования структурных изменений как на разных стадиях изготовле­ния СК АБ, так и при их анализе после определения электрических характери­стик. Особое значение имеют исследования процессов структурирования в ре­жимеin situ [195], что открывает перспективы по изучению кинетики фазовых превращений, зарядообразования и массопереноса, что ранее было описано по данным in situ АСМ исследований [110 - 113].

2.5.6.